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  • 厚度6.0 μm光譜儀薄膜--256

    美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm光譜儀薄膜--256

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    更新日期:2024-05-15
  • 厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

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  • 厚度3.6μm光譜儀薄膜--156

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  • 厚度3.6 μm光譜儀薄膜--150

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  • 厚度2.5 μm光譜儀薄膜-106

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  • 厚度2.5 μm光譜儀薄膜-100

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